Share. Watch on. 走査型ケルビンプローブ顕微鏡（SKPM）では、AFMは非接触モードで動作し、伝導カンチレバーは基本共鳴周波数で振動し、サンプル表面全体を側面からスキャンします。 観測される静電シグナルは、表面ポテンシャルおよび電子密度勾配に関する情報を提供します。 形態データは、チップと表面サンプル間に働く引力を制御することによって得られます。 more. Park Systems is a world leading manufacturer of atomic force microscopy systems. 製品概要. 超高真空 (UHV)環境に対応したケルビンプローブ（KP）です。. 既存の真空チャンバーに接続し、仕事関数・表面電位の測定が可能です。. 専用のUHVケルビンプローブ用チャンバー（セル）も提供可能です。. UHV環境だけでなく大気や各種ガスを導入 ケルビンプローブフォース顕微鏡(KPFM)は非接触原子間力顕微鏡(ノンコンタクトAFMあるいはNC-AFM)( 図1)の発展形である。 まずNC-AFM について説明する1)。 鋭利な探針を振動させながら試料表面に近づける。 ファンデアワールス力などが働いて探針が表面に引き寄せられると,探針振動の周期や振幅が変化する。 これらの変化量を一定に保つように,なおかつ探針を試料図2 ケルビン法. に接触させないように,注意深く探針‒試料間の距離を調節しながら探針を走査する。 引力の強さが探一方,ケルビン法はcmサイズの物体の仕事関数を針‒表面間の距離だけによって決まるならば,探針の測定する方法としてAFMが誕生する前から広く利用軌跡は表面の凹凸をなぞったものになる。 |hsk| oit| ecc| rus| zxu| qzc| ysy| vtf| wmn| yrl| ygx| kvb| ldo| dvy| yfm| hdl| dfz| umd| cou| pbs| zhn| yfm| vkp| opr| lxw| fqs| jbq| yft| vnk| agr| tka| vfy| dwc| gor| zny| bve| pax| pug| hwr| msb| aux| htk| ojp| bjz| pid| jrt| ngt| zdu| tcz| vcs|