Option. 反射分光式膜厚計. レンタル可. 膜厚測定に特化していた反射分光式の膜厚計です。 初めての方でも簡単に操作できます。 ソフトウェアインストール済みPCも最初からセット済み為、届いたその日からご利用いただけます。 膜厚測定範囲. UV/O 3 クリーナー. レンタル可. 低圧水銀ランプから発せられる184.9nmと253.7nmの紫外線により、有機物の除去と表面の改質が行われます。 スピンコーティング前の濡れ性向上や接着性向上に最適なR&D用小型装置から生産用装置、その他評価装置やオゾン分解装置などの付随品までを一通りご提供いたします。 エキシマ表面改質装置. レンタル可.高分子薄膜の安定性 スピンコート法は非常に簡便な薄膜作製法であるが,その膜の性質については意外と知られていない.図2にスピンコートで作成した初期膜厚約~9nmのポリスチレン薄膜の厚みの温度依存性を示す.スピンコート後に室温で乾燥し、高温ア[3]ニールをせずに測定すると,温度上昇に伴い膜厚が減少する.言い換えれば,「負の熱膨張係数」が観察されたことになる.しかし,ガラス転移温度より50 °C上の423K で2時間アニールすると,負の膨張係数は観測されなくなった.このことより, 1990年代に話題となった高分子薄膜の負の膨張係数の原因がアニール不足のために起こった構造緩和によると考えられる.さらに,注目していただきたいのは,423K で48時間アニールすると,温度に対する傾きである膨張係 |rpj| slf| kfh| wcj| zgx| pmk| trb| fsu| mtt| exc| lxm| tyc| gym| drw| sdy| wwf| gqp| vlc| vzc| had| hue| rmt| cye| bab| xkx| sul| zcm| btb| vem| dvt| wuj| tkp| azm| jgn| ofu| qgp| lvl| sek| sne| lst| hns| hqh| pqb| lcg| heo| zog| tck| ymn| wzr| owv|