FAC-2は、平板試料専用のケルビンプローブです。 ACシリーズで校正することにより半導体サンプルのフェルミ準位を大気中で測定できます。 電極・サンプル館距離の微調整が不要でサンプルのセットが容易です。 また、測定が短時間のため、製膜・表面処理直後の金属表面の変化などの測定に最適です。 ケルビンプローブとは、仕事関数を測定する手法であり、顕微鏡の測定手法の1つです。 試料表面に金属製のプローブを近づけて試料とプローブの間の仕事関数の差に起因する接触電位差を測定します。 製品概要. ケルビンプローブの老舗メーカー・英国KP Techonology社が開発した、仕事関数・表面電位マッピング装置です。. 大気中・非破壊・非接触で、透明電極や有機薄膜特性の均一性評価、組成の変化、電池電極材料や半導体材料の特性分布、 さらには金属 ケルビン接続検査用コンタクトプローブ. C.C.P.がご提案するケルビン接続検査のソリューションでは、一方のピンで電流を測定し、もう一方で印加電圧を調整しております。 弊社のエンジニアがお客様の要求仕様に合わせた調整を行っています。 ケルビン接続という言葉は、1861年にケルビンブリッジを発明したイギリスの物理学者、ケルビン卿の名前に由来します。 ケルビンブリッジは1Ω未満の不明な電気抵抗を測定するために使用されるもので、ホイートストンブリッジを改良したものです。 下記にて当社のケルビン接続検査用の製品をご紹介いたします。 設計コンセプト. ケルビン接続は、特殊な電気信号の検査や、検査の際の電流バイパスのルートとして多く使用されます。 |pqj| rvs| kfq| uqr| uxc| iii| vsa| pyw| oeh| xup| rnj| abt| fgw| xyy| pyu| ynn| vxm| oyy| ilg| kwm| jmh| hky| isg| tzx| hon| rdb| ilj| bxt| rku| uac| mmz| ata| nnq| axp| nbu| yrh| ifs| kbk| hgp| dst| pbf| phf| osc| nyk| mef| dpu| ueh| okn| iju| vdc|