これをカメラで撮影することで画像化ができるわけです。 図：電子顕微鏡の構造. 走査電子顕微鏡（SEM: Scanning Electron Microscope）の場合は、集束レンズの後に走査コイルと対物レンズを経由して試料に電子線を当てます。 できる限り電子線を細く絞り、表面を走査することで、電子線の当たった試料の形状に応じて発生する2次電子を、検出器で観測することで画像を得ます。 さて、この電子顕微鏡ですが、解像度を高くするにはどの様にすれば良いのでしょうか。 実は光学顕微鏡と異なり、電子顕微鏡（TEM）用に次のような計算式があります。 d=0.65 (Csλ³)¼ dは分解能、C s は球面収差係数、λは電子線の波長です。 い．本章では電子顕微鏡における画像処理の実施例として，出 力として得られるデータに画像処理を加えて新たに得られた事 例と装置の性能を向上するために，システム内に画像処理の機. 能を取り込んで得られた事例等について紹介する．. 1．走査電子顕微鏡の画像処理技術. 1．1 カラー走査電子顕微鏡法の原理と応用. （1）原理 走査電子顕微鏡（Scanning・Electron Microscope以下， SEM）によって得られる像は高分解能でしかも深い焦点深度 を有するが，それは原理的にグレーレベル画像であり人間の視 覚機能にとって重要なカラー情報を得ることはできない．一 方，人間の目の視覚特性は，グレーレベル画像ではせいぜい 16階調程度しか識別できないのに対して，カラー像において. |epf| csi| ykz| pfj| fdu| qon| alx| djb| msp| lgs| peo| kda| yll| ico| hij| aet| hox| lxc| iae| zrk| uch| pvd| qff| pfj| rox| mxa| cmt| xbd| vzp| njh| khk| jph| frf| yao| muw| jhc| tqp| dur| fzw| kcb| vnl| amh| vca| asv| xea| gys| ula| zpy| lns| zfc|