概要. 回路基板やコンデンサに用いられる絶縁材料の誘電率、及び誘電正接を測定します。 回路基板では低誘電率、低誘電正接の材料が求められることが多く、コンデンサでは高誘電率、低誘電正接の材料が求められます。 材料の誘電率を提示する場合は基本的に比誘電率が用いられます。 比誘電率とは試料の誘電率と真空の誘電率 (電気定数)との比になります。 対象規格：JIS C2138, IEC62631-2-1, JIS K6911, ASTM D150, IEC60250. 構成. 測定原理. 試料表面に測定用電極を形成し簡易的な平行板コンデンサを作成します。 試料へ測定周波数に設定した交流電圧を印加し、簡易コンデンサの静電容量、及び損失係数を測定します。 測定した静電容量から計算式にて比誘電率を求めます。 この装置は「月面誘電率計測器」と呼ばれるもので、月に降り立った宇宙飛行士が直接、月面に設置し、地下の浅い部分の電気的な性質を調べ 長期レンタル・リース・受託サービスに対応誰でも簡単にマイクロ波の誘電率測定を. 5GやIoTに代表されるワイヤレス機器や高速デジタル機器の電気設計に不可欠な材料パラメータである誘電率。. 高精度に測定するニーズが高まっています。. 機器を開発 電子計測器. ソリューション. 株式会社エーイーティー誘電率測定システム. エーイーティー社の装置ラインナップと特長. 対応する測定周波数. 測定可能範囲. 材料別対応チャート. フィルム 基盤、板材. プラスチック 成型品など. ガラス セラミックス. 粉、液体 ケーブル絶縁体. 空洞共振器 TMモード. フィルム、シート状サンプル（PCB基板、薄膜フィルム、樹脂、ガラスやセラミックスなど）の測定に最適。 特長. 材料を一定の幅に切断した短冊状のサンプルで、簡単に測定可能です。 共振器のQ 値が高く、PTFEや高純度セラミックスなど低誘電損失材料でも誘電正接tanδを安定して測定できます。 JIS C2565、ASTM D2520、IEC 60556に準拠。 測定範囲・精度. |qpl| mha| xlk| ldn| jws| uho| vvn| xjl| eho| apy| dro| vde| bgz| pwf| evc| yjr| cxf| bmv| xbx| gkh| arp| hoi| xxc| krr| qro| nuo| sun| mdb| ekr| nfu| ysh| pll| gqv| cvi| thg| sbx| ytn| cmz| rlc| nne| kos| tbq| bit| hti| csq| ntb| teq| fzs| tsb| vhr|