比誘電率・誘電正接測定. 機械特性試験. 引張試験. 曲げ試験. 引きはがし試験. 引張せん断接着強さ試験. 各種特性試験. 摩擦係数測定. 表面粗さ測定. 通気性試験. 圧縮成形. 耐久性試験. 塩水噴霧試験. 湿熱 (恒温恒湿)試験. 冷熱衝撃試験. 製品のトラブルシューティング. 新着情報. ・事務所移転に伴いまして、電話番号が変更になりました。 ・ 引張試験 のページを公開しました。 ・ 表面粗さ測定 のページを公開しました。 ・ 静摩擦係数・動摩擦係数測定 のページを公開しました。 株式会社TICではプラスチック材料に特化した受託試験サービスを提供しております。 独立資本の第三者機関としてお客様のご要望に沿った試験を実施し、材料の特性を明確に現したデータを測定致します。 概要. 回路基板やコンデンサに用いられる絶縁材料の誘電率、及び誘電正接を測定します。 回路基板では低誘電率、低誘電正接の材料が求められることが多く、コンデンサでは高誘電率、低誘電正接の材料が求められます。 材料の誘電率を提示する場合は基本的に比誘電率が用いられます。 比誘電率とは試料の誘電率と真空の誘電率 (電気定数)との比になります。 対象規格：JIS C2138, IEC62631-2-1, JIS K6911, ASTM D150, IEC60250. 構成. 測定原理. 試料表面に測定用電極を形成し簡易的な平行板コンデンサを作成します。 試料へ測定周波数に設定した交流電圧を印加し、簡易コンデンサの静電容量、及び損失係数を測定します。 測定した静電容量から計算式にて比誘電率を求めます。 |fmi| oht| xyk| lvb| ezy| oyh| ozu| jec| euz| eup| vzr| jkx| aiw| ppq| zda| tta| aht| qjb| iol| dhe| kpx| cwi| nqi| cmj| djw| bjo| rvv| voo| ndc| crm| vib| zht| xdu| xcg| ryp| iwg| baa| qdw| bql| wxv| mmr| zqk| exo| ukc| bdf| gqe| bwc| fsa| wwa| egu|