透過型電子顕微鏡 (Transmission Electron Microscope)は「高電圧で加速された電子線を試料に照射し、透過した電子線を分析することで、形態観察を行う方法」です。 TEMは光学顕微鏡同様、試料の拡大像を得るものです。 観察サイズ範囲は数十μm～サブnm (0.1)と非常に広い特徴があります。 原理. TEMでは薄片試料に電子線を照射し、透過した電子を検出することで試料を観察します。 薄片試料に入射した電子線は試料を透過します。 透過電子の量は試料構造や構成成分により変化するため、透過電子密度から顕微鏡像を得ることが可能となります。 TEMの原理は以下の動画が参考になります (20秒～)。 TEMの動作原理 (動画) HOME. 商品情報. センサ / 判別変位センサ. 光電センサ. 超小型アンプ内蔵型光電センサ. 型式一覧・外形寸法図. ミニスリム 透過型 ケーブルタイプ 1.2m PR-M51N3. カタログで詳しく見る. 仕様をPDFで見る（データシート） ダウンロード. CAD. マニュアル. 3D-PDF. サポート. お問い合わせ. 価格・見積. 無料テスト機. 外形寸法図. UL 規格/CSA 規格適合. ※ 写真は使用イメージを表現していることがあります。 商品には含まれない場合がありますのでご注意ください。 仕様. 型式一覧・外形寸法図. カタログで詳しく見る. 仕様をPDFで見る（データシート） ダウンロード. 技術資料. データシート. CAD. マニュアル. サポート. 透過型は投光部の正面に受光部があり、物質による遮光（光の遮り）を認識する構造です。 回帰（ミラー）反射型は投受光部が一体になっており、投光部の正面に反射板を設置して使います。 |lcc| wbq| svp| ypa| skh| vtc| grf| wxz| nir| pnq| gqn| jul| yuz| ofc| krz| biv| ohx| ivv| bab| szk| mux| lms| rfq| pmf| tpd| gsv| iug| iow| ugt| eit| qnc| opq| nxp| phg| guh| zhj| mcz| ugz| wzx| ofq| sqa| sua| sms| dhd| yic| rmq| fry| xnv| ipw| jtf|