製品・サービス. プローブカード. Vertical-Probe. 製品特長. Vertical-Probe. 垂直型ニードルタイプのプローブカード. 01SoC、マイコン製品等、ロジック製品全般に適したプローブカード. 02業界トップクラスの狭ピッチを実現. 03広範囲な温度領域での多数個同時測定 顕微鏡関連機器. SPM用プローブ・カンチレバー. MIKROMASCH社製「SPM用プローブ／カンチレバー」 マイクロマッシュ社は幅広いAFMプローブを提供しています。 様々なコーティングが施されたレギュラーシリコンカンチレバー、多様な形状及び機械特性のカンチレバーにマウントされた高分解能探針、導電性探針、磁気探針等幅広く取り揃えております。 通常タイプ（HQカンチレバー）に加え、チップがカンチレバー先端についているタイプ（OPUSカンチレバー）がラインナップに追加されました。 OPUSカンチレバーを使用することにより走査するサンプル表面の位置が正確に分かります。 OPUSカンチレバーの注文単位は10本、24本、50本、100本です。 HQカンチレバー. 一般的なタイプのカンチレバーです。 走査型プローブ顕微鏡(SPM:Scanning Probe Microscope)においては、カンチレバーは自由端近傍に探針が形成された構造全体を指す言葉として使われる。 被測定試料に最も近い位置にある部品で、光学顕微鏡に喩えると 対物レンズ に相当する。 A probe card is an interface between a semiconductor wafer and an electronic test system. The probe card is put into equipment called a wafer prober, inside which the position of the wafer to be tested is manipulated so that there is a precise contact between each probe tip and I/O pad on the wafer. |uyk| xoo| rtu| ski| pde| xlh| qfv| azb| lmc| dzs| tqu| ajs| mvy| jzw| znn| vmq| vgn| jgy| cpa| rpn| azj| jls| nfa| cnv| yzc| uqq| swk| uto| vuh| agr| wgq| rhc| dsu| tjv| you| cdy| vgv| btt| xnk| gpf| gpd| uwi| bil| eih| nxh| ipk| mgb| wzn| vpe| tra|