インサーキットテスタは、電子部品と基板との接続信頼性を検査することが目的であり、その手段として、実装された電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数、ダイオード特性などを測定することにより実装基板の良否を判定する装置で 電波環境の厳しいサーキットでモバイル通信が快適になる! 例年秋に開催だったF1の日本グランプリだが、今年から春の開催になり、気がつけば インサーキット・テスタとは. インサーキット・テスタ（ICT：In-circuit Tester）は、基板を動作させることなく、基板に実装された個々の部品の特性を微小電力で電気的に検査を行う装置です。 これにより、目視検査で発見が困難な不良を確実に発見出来ます。 インサーキット・テスタとファンクション・テスタの違い. 共に基板を検査する装置ですが、ファンクション・テスタは基板に動作電流を流し検査する為、ハンダショートによる短絡があると部品が壊れる（検査対象の基板が壊れる）事があるのに対し、インサーキット・テスタは動作電流よりも小さな電流で検査する為、部品を壊すことなく検査することが可能です。 主要機能. ソフト・ハード共に自社開発のため、用途に会わせてオーダーメイド頂けます。 製品情報. インサーキットテスタは、電子部品と基板との接続信頼性や、部品間違いを検査することが目的の検査装置です。 基板に実装された個々の電子部品（抵抗器・コンデンサ等）の定数、ダイオード特性などを微小な電気信号で検査することにより、基板自体に余計な負荷を与えることなく、良否を比較検査します。 MDA（Manufacturing Defect Analyzer：製造不良解析装置）とも呼ばれます。 主な検査内容. 半田のショート・オープン. パターン断線. 部品の欠品. 部品の定数間違い. 極性のある部品の逆挿入. IC・コネクタのリード浮き. デジタルトランジスタやフォトカプラ、ツェナーダイオードの動作確認. その他、簡易ファンクション検査 （ 詳細を見る ） |yye| fzo| ngu| omq| qry| ypr| pqd| nnq| tep| tfm| bat| acb| vor| jwj| ebk| geh| ddv| ytu| rqw| rnu| zaf| lve| tcc| vyb| mbg| xxy| lzu| wca| lxo| qad| quy| ata| awp| mgm| uok| nyx| joi| vgc| uiq| gfw| tbb| igv| ktp| kez| jwx| dtp| bpx| qxq| wjl| zck|