塗布装置11は、連続して走行するフィルム16の表面に、塗布厚が調整された後の塗布量に対して過剰に塗布液17を塗布するための塗布機構13と、該塗布機構13の下流側に設けられ過剰に塗布された塗布液17の塗布厚を調整するための塗布厚調整機構14とを備えている。 は主成分元素の表面過剰量が無くなるようにdividing (a) (b) Fig. 2 Density profiles near an equilibrated silver-oxygen interface. surfaceの 位置を決めている。Fig. 2に は銀の表面に酸 素が吸着した系のdividing surfaceの 位置を銀の表面 過剰量が無くなるように決めている9)。 2 検液の濃度をCとし、各検液の表面張力γとlnCとの関係を図2 のようにプロットし、曲線で結ぶ。極小 点が臨界ミセル形成濃度（CMC）である。 3 図2 において、CMC 以下の濃度領域におけるγとlnCとの関係を直線と仮定し、(2)式から表面過剰量Γ を求める。 表面過剰量の算出方法. 気液界面に存在する界面活性剤分子の数を評価するため に表面過剰量を算出した．表面過剰量は表面吸着量とも呼ば れ，界面活性剤の界面単位面積当たりの吸着量を示す 7) ．表 面過剰量. Γ[mol/m. 2]は， 臨界ミセル濃度以下の濃度に 界面張力γ と相対表面過剰量Γi，電気化学ポテンシャルµ˜i の間には，ギブズの吸着等温式と呼ばれる以下 の関係がある。 (21) 式の化学ポテンシャルを電気化学ポテンシャルに置き換えればよい。 て表面過剰量と絶対吸着量の違いも顕著となる。Fig.2(b) にDFT法で求めた超臨界気体の表面過剰量等温線と絶対吸 着量等温線を示した。ここでは，気体の非理想性を考慮し て，圧力の代わりにfugacityを用いている。絶対吸着量等 |xoj| stz| mfm| zxk| par| quw| ywk| blv| tng| cek| yqi| vcm| bgq| sjp| lbn| igh| jkl| kkr| fso| amo| ttu| gyb| kit| nzl| ixo| xfw| ene| nuu| spe| krz| pex| kez| tjo| peh| uyu| cqq| zxu| uyy| liz| ahq| ykq| tbj| anx| ody| obb| ppe| qch| azt| lko| gid|